| Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводнике методом Лекса. |
14 мая 2008 |
|
| Категория: Главная |
Явление рекомбинации заключается во взаимодействии свободного электрона со свободной дыркой с образованием валентной связи между атомами полупроводника. При этом пара свободных носителей заряда исчезает. Рекомбинация носителей заряда в полупроводниках может протекать по нескольким механизмам. 1.Излучательная рекомбинация. Электрон рекомбинирует с дыркой с излучением фотона. Такой вид рекомбинации имеет место в прямозонных полупроводниках. При рекомбинации должны выполняться закон сохранения энергии и закон сохранения импульса ( рис.1 ): где - изменение энергии электрона при переходе из зоны проводимости в валентную зону; h - постоянная Планка; - частота излучаемых фотонов; - импульс электрона; - импульс дырки; - импульс фотона; - волновой вектор фотона. Закон сохранения энергии всегда легко выполняется в актах рекомбинации, а закон сохранения импульса легко выполняется только в полупроводниках с прямыми переходами типа GaAs (рис.2), поскольку импульс - величина очень малая. Условие (2) приводит к тому, что излучательная рекомбинация в непрямозонных полупроводниках маловероятна и играет очень незначительную роль. В полупроводниках типа кремния и германия излучательная рекомбинация практически не идет. Для протекания процессов рекомбинации в непрямозонных полупроводниках необходима третья частица, которая забирала бы себе избыточный импульс (рис.3).
Рис.1.Межзонная рекомбинация в полупроводниках Рис.2.Зонная диаграмма прямозонных полупроводников в зависимости от импульса Рис.3.Зонная диаграмма непрямозонных полупроводников в зависимости от импульса Такой частицей может быть фонон-тепловое колебание решетки. Однако рекомбинация с участием фононов также маловероятна и составляет крайне малую долю (меньше 1% для кремния). Основной механизм рекомбинации в Ge и Si - это рекомбинация через глубокие уровни (рис.4). Третьей частицей, активно участвующей в актах рекомбинации, является атом примеси или дефект кристаллической структуры, дающие глубокие уровни в запрещенной зоне полупроводника. Акт рекомбинации происходит следующим образом. Сначала глубокий уровень захватывает электрон и заряжается отрицательно, а затем отрицательно заряженный центр захватывает дырку или наоборот. Фактически глубокие уровни играют роль катализатора процесса рекомбинации, так как катализатор снижает энергетический барьер взаимодействия (рекомбинации). Скоростью рекомбинации в германии и кремнии можно управлять, регулируя концентрацию глубоких уровней, являющихся центрами рекомбинации. Основная характеристика рекомбинации - это скорость процесса, то есть изменение концентрации носителей заряда в единицу времени. Если рассматривать затухание концентрации избыточных, однородно введенных в полупроводник неосновных носителей заряда (например электронов), пренебрегая процессами их диффузии и дрейфа, то скорость рекомбинации будет пропорциональна концентрации избыточных носителей. |
|
|
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь. Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо зайти на сайт под своим именем.
Другие новости по теме:
Определение диффузионной длиныОПРЕДЕЛЕНИЕ диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводнике ...Емкостные свойства p-n-переходаОПРЕДЕЛЕНИЕ концентрации основных носителей заряда и подвижности в примесно ...Определение энергии ионизации примеси
|
|
|
|
|
 |
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии в данной новости. |
|
|
|
|